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一种基于贝叶斯优化的多Testbench模拟电路优化方法.pdfVIP

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  • 2023-07-26 发布于四川
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一种基于贝叶斯优化的多Testbench模拟电路优化方法.pdf

    本发明属集成电路设计技术领域，具体涉及一种基于贝叶斯优化(BayesianOptimization)的模拟电路优化方法，该方法采用高斯过程(GaussianProcess)建模，并利用带约束预测熵搜索(PESC)和可行域期望提升(FEI)作为采集函数。本发明提出对模拟电路的各个性能指标分别建立高斯过程模型；通过优化PESC/wPESC采集函数，产生下一轮迭代优化需要仿真的Testbench和相应仿真点；通过对可行域期望提升采集函数求解一个多模态优化问题，提升探索未知可行域的效率。与现有技术的

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116484787 A (43)申请公布日 2023.07.25 (21)申请号 202210039711.4 (22)申请日 2022.01.13 (71)申请人 复旦大学 地址 200433

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