一种用于半导体的检测设备.pdfVIP

  • 9
  • 0
  • 约2.37万字
  • 约 25页
  • 2023-07-29 发布于四川
  • 举报
本发明的实施例提供了一种用于半导体的检测设备,涉及半导体检测设备领域。本发明提供的一种用于半导体的检测设备,包括设备本体、运输组件和视觉检测组件;运输组件用于运输产品,运输组件设置于设备本体内;视觉检测组件通过有龙门架组件设置于设备本体上,龙门架组件用于带动视觉检测组件对产品进行实时检测。通过运输组件、视觉检测组件和龙门架组件配合,实现自动化对多类型产品进行实时视觉检测,其对各类产品的兼容性高,保证了产品质量,提高了生产效率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116500032 A (43)申请公布日 2023.07.28 (21)申请号 202310713831.2 (22)申请日 2023.06.15 (71)申请人 聚时科技(上海)有限公司 地址

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档