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- 2023-07-29 发布于四川
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本发明提供了一种LDMOSFET器件及其制作方法。该器件包括衬底,衬底的一侧具有外延层,外延层具有远离衬底的第一表面;源/漏区,形成于外延层中;体区,形成于外延层中靠近第一表面的一侧,体区与源/漏区的源区接触;漂移区,形成于外延层中并与体区接触,漂移区与源/漏区的漏区接触;埋入阱,形成在外延层中并分别与体区和漂移区接触,埋入阱与衬底连接,且埋入阱与体区的掺杂类型相同并与漂移区的掺杂类型相反。通过加入埋入阱,将碰撞电离产生的空穴电流引入埋入阱中,并通过埋入阱离开,从而减少了空穴电流通过体区的流通量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116504839 A
(43)申请公布日 2023.07.28
(21)申请号 202210642557.X
(22)申请日 2022.06.08
(71)申请人 苏州华太电子技术股份有限公司
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