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本实用新型公开了一种用于硅块电阻率测试的定位装置，包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板，定位板上设置有通孔，通孔包括去头测试孔和去尾测试孔，去头测试孔的中心与定位板顶端的距离等于待测硅块头部待去除的高度，去尾测试孔的中心与定位板底端的距离等于待测硅块尾部待去除的高度。本申请公开的上述技术方案，设置一宽度与待测硅块宽度相等的定位板，在对硅块进行电阻率测试时，可以直接通过定位板上的去头测试孔和去尾测试孔来定位待测硅块的电阻率测试点，即无需再利用尺子定位硅块去头去尾的高度，因此，可以提高测试效率。另外，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209946214 U
(45)授权公告日
2020.01.14
(21)申请号 20192
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