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- 2023-07-31 发布于四川
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本实用新型公开了一种光学膜层厚度测量仪，包括：一机体，所述机体的正面设置有控制面板；一电路主板，所述电路主板位于所述机体的内部，且所述电路主板的两个支脚均与所述机体内侧底部固定安装的固定板相连接。本实用提供的光学膜层厚度测量仪，电压信号从A1的引脚一输入，经LM311电压比较器的V/F变换，使得电压转换为0‑1KHz的频率信号，VR1调节最低频率，RP1调节最高频率。A1的引脚三输出的频率信号到CPLD数字逻辑处理芯片与基准11MHz比对，形成膜厚数据，由4位数码管显示出0－999.9的数字显示
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209945264 U
(45)授权公告日
2020.01.14
(21)申请号 20192
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