JB 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪.pdf

JB中华人民共和国机械行业标准JB / T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪1996-10-01实施1996-04-16 发布中华人民共和国机械工业部发布 前言本标准参照采用的 ISO2178-1982 和 1SO2360-1982 是方法标准，其糖度要求是确定本标准仪器准确度的唯一依据,体现了本标准与国际标准接轨的精神。本标准由北京市计量科学研究所提出。本标准由长沙科学仪器研究所归口。本标准主要起草单位：北京市计量科学研究所。本标准参加起草单位：机械部仪器仪表综合技术经济研究所、北京亚中仪器有限公司、北京时代集团公司、武汉材料保护研究所、北京画型电机厂。本标准主要起草人:吴迅、苏桂兰。本标准参加起草人:龙成章、徐达、雷莲、宋植堤、李燕平。 中华人民共和国机械行业标准JB / T 8393-1996磁性和涡流式薇层厚度测量仪1 范围本标准规定了磁性和病流式覆层厚度测量仪的要求、试验方法、检验规则、标志标签、包装等。本标准适用于磁性和涡流式覆层厚度测量仪(以下简称覆层测厚仪)。2 引用标准下列标准包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文，在标准出版时，所示版本均为有效。当下列标准被修订后,使用本标准的各方应操讨使用下列标准最新版本的可能性。GB4956-85磁性金属基体上非磁性覆整层厚度测量磁性方法GB4957—85非磁性金基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法GB6587.1—86电子测量仪器环境试验总纲GB6587.2—86电子测量仪器温度试验GB6587.3—86电子测仪器湿度试验GB6587. 4--86电子测量仪器摄动试验GB6587.586电子测置仪器冲击试验GB6587.6--86电子测量仪器运输试验GB6587.7—86电子测量仪器基本安全试验GB6593—86电子测量仪器质量检验规则GB11463—89电子测量仪器可糖性试验方案ZBY003-81仪器仪表包装通用技术条件3 定义本标准采用下列定义。3.1疆层及覆层厚度“覆层”是指覆盖于某种基体上的以实现保护、装饰或其他功能的镀层、涂层、氧化膜、贴层和效层等。“覆层厚度”：以覆层的上表面为上限,以基体的上表面为下限，从垂直覆层表面的方向测得的上下限之间的距离。3.2基体、校准基体和基体最小厚度“基体”是具有一定厚度的几何体，它可以是铁磁性材料，也可以是非铁磁性导电材料。“校准基体”是具有一定厚度的上工作面为平面的几何体。“基体最小厚度”:基体的最小厚度与检测仪器的探类有关。当基体厚度小到某一厚度时,基体对测量结果的影响仍可以忽略，贿此厚度即为该仪器探头的基体最小厚度。机械工业部1996－04-16批准1996—10-01实施1 JB / T 8393 -19963.3校准片的实际值在校准片的有效范内,其中心点五次测得厚度尺寸的平均值。3.4校准片的均匀度在校准片的有效范围内,其他部位对中心点厚度尺寸的最大差值,并冠以”±”号。仪器分类与命名仪器应由主机、探头、校准片和校准基体等组成。4.1仪器分类按仪器准确度的高低分为 AA、A、B,C、,D 五类,与其相应的该仪器进行校准时所需的校准片和校准基体也分为五类，其各自的要求详见表 1。单位:μm表 1 仪器分类仪器类别AAABcD仪器的准确度± (0.5 +0.005H)±(1 +0. 01H)±(1.5 +0.03H)±(2 +0.05H)超过±(2 +0.05H)校准片的±0.15±0.3±0.5±1.0±1.5均匀度± 0.006h50± 0.003ht 0.01h± 0.02h± 0.03h校准|表面粗糙度(Ra)0.20.30.40.50.7基体平面度★0.50.71.01.52.0注: 1. H-仪发的测得值；2. h-校准片的实际值：3. *平面度评凸不许凹。4.2仪器的品种、规格在产品标准中，应给出覆层测厚仪的品种、型式、结构简图、外形尺寸、熏量、基体最小厚度和最小可测曲率半径等有关技术数据。校准片的配置，仪器的每个量程至少应配量一片经计量部门检定合格的校准片。基体材料的物理特性，对于磁性仪器的基体应为铁磁性材料，对于涡流式仪器的基体应为非铁磁性导电材料。4.3仪器命名4.3. 1 覆层厚度测量夜采用如下的方法命名：C或WFH口口T产品改型标志厚度测量仪覆县磁感应式或调流式4.3.2校准片采用如下的方法标注：2 JB / T 8393 -1996Xx××校准片的型号或编号校准片的实际值校准片的均匀度5 要求5.1使用条件环境温度：0～40℃;环境凝度：20 % ~~ 90 % RH;周围无振动、无较强磁场和腐蚀性气体。5.2外观质熏5.2.1产品外表应整洁,无明显划痕和损伤。铭牌、标志应完整清晰。5.2.2数字显示应清晰、无闪烁，无缺笔划和连笔现象；指示表表盘刻线应清晰、