采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法.docxVIP

采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 随着半导体工艺的不断发展，芯片逐渐变得更加复杂。这也导致了设计和验证的难度不断增加。在设计验证过程中，触发器选择是一个非常重要的环节，它直接影响到电路的正确性和功耗性能。本文将介绍一种新的触发器选择方法，它采用部分增强型扫描来提高跳变时延故障的覆盖率。一、背景介绍在现代集成电路设计中，由于采用了大量的时序优化技术，如时钟门控优化、布线迟滞优化等，电路的时序问题得到了很好的解决。但是，当电路变得更加复杂时，时序问题仍然是设计和验证的一个难点。其中，跳变时延故障是电路验证中的一个重要问题，因为它涉及到电路的时序正确性。跳变时延故障通常是由于在时钟边沿会出现过度的负荷或噪声干扰导致的。在这种情况下，电路输出在一个时钟周期内可能会被延迟或提前。这种故障对系统的性能和可靠性都有严重的影响，并且通常很难被发现。传统的故障模拟方法通常是通过随机模拟或基于描述的故障模拟来检测跳变时延故障。但是，这些方法通常只能覆盖一小部分故障，无法全面覆盖整个故障空间。因此，需要采用新的方法来提高跳变时延故障的覆盖率。二、相关研究针对跳变时延故障的覆盖率问题，已经有很多相关的研究。其中，部分增强型扫描技术是一种常用的方法。该方法是在扇入较大的触发器输出处插入一个多路选择器，来选择是否将输出扫描出去。这样可以大大增加故障覆盖率。此