YD_T 3304-201713.56MHz的近场通信设备射频指标和测试方法.pdf

ICS 33.060.20M36YD中华人民共和国通信行业标准YD/T 3304—201713.56MHz的近场通信设备射频指标和测试方法RF technical requirements and test methods for 13.56MHznear field communication radio equipments2017-11-07发布2018-01-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布 YD/T 3304—2017e）在各个测试额段搜索杂散信号，每一个杂散信号的功率应符合表4规定的辐射杂散发射的限值要求。5.3.5频率容限频率容限应采用附录A中所述的测试场地和附录B中的相关测量程序进行测量。发射机应调整为单载波发射模式。使用频谱仪读取信号包络的最大值，按照式（1）计算频率容限。f(f) .* (1)式中：——频率容限；厂——信号包络的最大值：为标称中心额率。 YD/T3304—2017附录A（规范性附录）辐射测试的测试场地A1.1开阔测试场或半电波暗室开阔测试场或半电波暗室应符合GB9254-2008附录A中对测试场地的要求。在1GHz以下额段，测量收发天线的测试距高不小于3m。在1GHz以上额段，选择合适的测试距高。被测设备大小应小于测试距高的20%。被测设备架高或替代用天线架高要求为1.5m，测试天线架高要求在1m至4m范酬内调整。为确保因测试场地附近有障码物而产生的反射波信号对测试结果没有影响，测试场地应满足如下条件：a）测试场地近处不能有直径大于测试最高频率入／4（为电波波长）的导电物体存在：b）连接电缆尽量沿地板表面铺设，最好铺设在地板下面，低阻抗电缆要采用屏蔽电缆。典型的测试场地布置如图A1所示。uit天线I~4m设备1. 5m地板频评分新仪或滤设测量摄收机器组图A1测试场地布置A.1.2全电波暗室A1.2.1综述全电波暗室是一种室内装有射频吸收材料的全屏蔽室，用来模拟电磁波传播的自由空间环境，它是完成设备辐射发射测试的替换场地。测量天线、被测设备和其替代用天线的测试布置同开阔测试场相似，但它们离地板的架设高度是固定的。关于全电波暗室屏蔽效能和境面反射损耗的指标要求见表A.1、表A.2，要求全电波暗室内被测设备到测试天线的空间传输损耗与在自由空间环境下的传输损耗的偏差在±4dB以内。8 YD/T3304—2017表A.1全电波暗室屏蔽效能指标要求频率范围屏蔽效能最低限值（dB）10kHz~100kHz60100kHz~30MHz8030MHz~10GHz105表A.2全电波暗室填面反射损耗指标要求反射损耗景低限货（dB）30MHz~100MHz10100MHz~300MHz22300MHz~10GHz30A.1.2.2测试天线测试天线的物理尺寸不能超过测试距离的20%，测试天线应适合于极化波的接收，应安装在水平臂的末端，应允许天线能按测试电场的水平分量或垂直分量来定位安装，当按垂直极化取向及在最低位置安装时，天线的低端应至少离地0.3m。A.1.2.3替代天线替代用天线的增益精度在±1dB以内。9 YD/T 3304—2017附录B（规范性附录）辐射杂散的通用测试方法B.1辐射杂散测试辐射杂散测试应在全电波暗室内按照图B.1所示布置进行。测试时，测量天线要正对披测设备的最大辐射电平方位，将测试方位记录在测试报告中，并在该方位上进行测试。被测设备：天线1~4m1~4o地板频请分析仅图B.1测试布置示意图福射杂散洲试步骤如下，a）测试场地应满足指定测试频段的测试要求，被测设备放置在标准转台（或支架）上，除非特别要求，测试天线要垂直极化正对被测设备，天线高度与被测设备的高度相同。b）设置额谱分析仪为峰值检波方式。在规定的辐射杂散测试频段内进行扫描，搜索除免测频段以外的由被测设备产生的有效杂散频谱分量。若有必要，对测试天线在较小范围内进行升降，使频谱分析仪获得有效输出频谱分量的最大功率读数。c）旋转被测设备，使频谱分析仪获得最大电平读数。若有必要，再次对测试天线在较小范围内进行升降，使频谱分析仪在上述最大电平读数基础上获得更大电平读数，记录有效频谱分量的额率和最大电平读数在测试报告中。d）将测试天线设置为水平极化位置，重复上述测试过程。1o YD/T3304—2017B.2替代测试用上述B.1的测试方法获得的测试数据并非最终的测试结果，被测设备产生的杂散信号的实际发射电平需要用替代测试来确定。替代测试的原理是用已知的信号发生器替代被测设备，从而定量给出被测设备产生的各个信号的发射电平，测试连接如图B.2所示，替代用天线替代被测设备放置在原位置处，并且是垂直极化方式，信号发生器频率调诺至B.1测试过程中的各个信号的测试频率，调整信号发生器输出功率大小，使得测试频谱分析仪获得与在B.1测试过