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本发明揭示了一种用于晶圆腐蚀工艺的金属掩膜制备方法,包括如下步骤:S1、设计并制作带有晶圆腐蚀图形的光刻版;S2、采用步骤S1中的光刻版,利用光刻胶在所需晶圆上进行光刻,形成光刻胶图形;S3、利用物理气相沉积方法在光刻后的晶圆表面沉积种子层;S4、剥离多余的种子层和去胶,形成带有图形化种子层的晶圆;S5、对步骤S4形成的带有图形化种子层的晶圆进行电化学沉积金属掩膜,金属掩膜结构将在晶圆表面暴露种子层的位置生长,并最终形成所设计的金属掩膜。本发明优化原有电化学沉积金属掩膜流程,即不再在沉积后通过腐
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116525433 A
(43)申请公布日 2023.08.01
(21)申请号 202310179334.9
(22)申请日 2023.02.28
(71)申请人 苏州苏纳光电有限公司
地址 21
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