一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.77万字
约 16页
2023-08-02 发布于四川
举报
版权申诉

一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本申请提供了一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质，具体实现方案为：获取图像传感器在预设采集周期内针对测试图卡上感兴趣区域采集的事件数据流，其中，图像传感器配置有EVS像素，感兴趣区域具有透光区域及非透光区域，在采集周期内处于出光状态的测试光源与图像传感器处于测试图卡的相对两侧，测试图卡处于图像传感器的视场角之内；基于事件数据流确定目标事件帧相应的事件像素总数量；根据事件像素总数量及对应于透光区域的像素总数量，计算图像传感器的性能评价指标。通过本申请方案的实施，EVS像素通过测试图卡的透光

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116527871 A (43)申请公布日 2023.08.01 (21)申请号 202310495162.6 (22)申请日 2023.05.04 (71)申请人深圳锐视智芯科技有限公司地址