一种光模块性能调试装置、方法及介质.pdfVIP

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2023-08-09 发布于四川
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一种光模块性能调试装置、方法及介质.pdf

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本发明公开了一种光模块性能调试装置、方法及介质，该方法包括以下步骤：获取待测模块寄存器的值；获取待测电信号，所述待测电信号为与所述待测模块对应的标准模块接收端信号且该信号为所述待测模块发送端信号经衰减后的信号；根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图；判断所述二维电眼图是否符合设定要求；响应于所述二维电眼图不符合要求，生成寄存器调整指令，以使所述待测模块根据所述寄存器调整指令调整发送端寄存器的值或者接收端寄存器的值，直至所述标准模块二维电眼图符合设定要求。其装置价格低廉、测试效率高且降低对光器件一

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116566507 A (43)申请公布日 2023.08.08 (21)申请号 202310529778.0 (22)申请日 2023.05.11 (71)申请人四川互连创新科技