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本申请公开了一种检验方法、检验系统和存储介质，检验方法包括：根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置保存的全部标志位结果，并将电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，将外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中以复验电子装置。如此，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111538632 A
(43)申请公布日
2020.08.14
(21)申请号 20201
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