面向ATE测试设备的集成电路测试激励生成方法.pdfVIP

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2023-08-09 发布于四川
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面向ATE测试设备的集成电路测试激励生成方法.pdf

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本发明公开一种面向ATE测试设备的集成电路测试激励生成方法，包括以下步骤：步骤一、构建全片设计模型，步骤二、构建模拟验证环境，步骤三、编写测试文件，步骤四、按照四层结构、在不同验证平台、基于行为级进行仿真生成不同层次的测试激励，步骤五、融合形成完整测试激励，将在不同验证平台上生成的测试激励，在应用层框架的基础上，根据调用及层级关系，融合形成一个完整的测试激励。本发明可以降低测试激励生成环境构建的难度和复杂度，提高测试激励环境构建的兼容性和适应性，降低测试激励生成时间，提高测试激励生成效率，提高测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114236359 A (43)申请公布日 2022.03.25 (21)申请号 202111568525.1 (22)申请日 2021.12.21 (71)申请人无锡江南计算技术研究所