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- 2023-08-13 发布于湖南
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为了实现最精确的矢量网络分析仪测量,您对您的电子校准件进行校准了么?
电子校准件是从根本上来说是一种非常稳定的器件。如果连接、储存和处理方法正确的话,电子校准件在校准周期内使用时可以达到保证的技术指标。但是极端的环境、过大的输入和不正确的处理方法都会降低其稳定性和可重复性。连接器损坏可能会显著影响测量精度。
随着校准周期的延长
电子校准件超差(OOT)现象越来越多
下面是是德科技通过分析客户的2000个电子校准件之后得到的案例分析结果:超过三年没有经过校准的电子校准件与每12个月校准一次的电子校准件相比,OOT比率高3倍。
VNA测量结果
开始变得不准确
史密斯圆图显示了处于容限范围内外的电子校准件
上图显示了已经出现超差(OOT)的电子校准件对VNA测量结果的影响。蓝色曲线表示使用正常的电子校准件获得的测量结果。橙色曲线表示使用已经出现超差的电子校准件获得的测量结果。这个已经出现超差的电子校准件存在连接器缺陷,而且五年没有经过校准。注意,橙色曲线发生位移,而且有一部分超出了史密斯圆图。如果您的VNA使用这个电子校准件,那么测量结果会出现明显的误差。
重点来了!
产生这些OOT(校准超差)的原因,一个是电子校准件内部标准发生了变化,另一个是不正确的处理方式导致连接器受到损坏。
· 内部标准:电子校准件阻抗标准件的特征受老化率、漂移等因素的影响会发生变化。为了达到电子校准件的性能技
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