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一种固态硬盘寿命测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-08-12 发布于四川
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一种固态硬盘寿命测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdf

    本发明涉及硬盘测试技术领域，并具体公开了一种固态硬盘寿命测试方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：获取固态硬盘的第一存储单元的第一擦写次数初始值和第二存储单元的第二擦写次数初始值，其中，第二存储单元的寿命高于第一存储单元；对固态硬盘进行磨损测试，并在磨损测试结束后获取第一存储单元的第一擦写次数和第二存储单元的第二擦写次数；计算第一磨损次数增量与第二磨损次数增量；基于第一磨损次数增量和第二磨损次数增量的比值是否大于1/12，确定固态硬盘的寿命是否满足测试需求。通过本发明的方案，能够模拟固态硬盘

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116580753 A (43)申请公布日 2023.08.11 (21)申请号 202310547548.7 (22)申请日 2023.05.12 (71)申请人 山东云海国创云计算装备产业创新

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