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WT-2000 中文说明 WT-2000 中文说明 一．简介: 可选功能： μ-PCD 无接触测量少子寿命 LBIC 光诱导电流，反射率，计算电池内外量子效率 SHR 无接触测试方块电阻 RES 涡流法无接触测试电阻率 P/N 无接触型号测试 THCKNESS 电容法测试晶片厚度 设备概述： 1．两台工控电脑,其中一台是 DOS 操作系统，主要负责测量数据的处理，机器动作的控制 与监控，并与另一台电脑通讯。另一台电脑是 WINDOWS 操作系统，wintau32 操作软件被 安装在此。 2 ．测试台，用来测试样品，各个功能可以集成到一个探头上，客户可根据需要来选择不同 的功能。 二． 原理： 1．少子寿命测试原理 微波光电导衰退法(Microwave photoconductivity decay)测试少子寿命，主要包括激光注 入产生电子-空穴对和微波探测信号的变化这两个过程。904nm 的激光注入（对于硅，注入 深度大