一种用于检测偏光片结构层状态的设备.pdfVIP

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2023-08-16 发布于四川
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一种用于检测偏光片结构层状态的设备.pdf

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一种用于检测偏光片结构层状态的设备，包括相机、折弯装置和程控实验箱，折弯装置设置与程控实验箱内，折弯装置用于夹持待测样品，并对待测样品进行折弯动作，相机设置在程控实验箱内，用于采集待测样品的图像，程控实验箱用于提供设定的温度和湿度环境。本实用新型提供了一种自动检测装置，由程控实验箱提供不同温度、湿度，由折弯装置提供不同绕度，在各种不同条件组合下，通过相机采集的图像，用于进一步分析偏光片在不同条件下的亮度、对比度的还原情况，以及寿命情况，为偏光片的研发检测提供支持。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210108684 U (45)授权公告日 2020.02.21 (21)申请号 20192