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本发明公开了一种孔轴轴线空间对齐装置及方法，所述装置及方法利用高精度非接触式位移传感器对待对齐轴和孔的端面相对位置与轴线相对位置进行测量，分步实现轴和孔端面的平行及轴和孔轴线的空间对齐，该方法采用非接触式测量方法，测量方式灵活可靠，测量时不存在接触应力造成的测量误差，相比现有的肉眼观察或者人工测量的方式，具有较高的精度，可适用于对齐精度较高的场合。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116587067 A
(43)申请公布日 2023.08.15
(21)申请号 202310667280.0
(22)申请日 2023.06.05
(71)申请人 中国工程物理研究院电子工程研究
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