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- 2023-08-17 发布于四川
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本实用新型公开了芯片外罩自动上料测量机,包括上料测量机主体,所述上料测量机主体的上端外表面设置有便捷测量机构、进料斗与外罩壳,所述便捷测量机构位于进料斗的一侧,所述外罩壳位于进料斗的另一侧。本实用新型所述的芯片外罩自动上料测量机,设有便捷测量机构、卷绕收纳机构与便捷出料机构,能够便于人们对芯片外罩的质量与大小进行测量,测量起来较为方便,有利于人们使用,并能对上料测量机上过长部分的导线进行收纳,防止长期暴露在外受到损坏,有利于人们使用,还可以根据加工设备料口的位置对出料的高度进行调节,可以使出料变
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210121570 U
(45)授权公告日
2020.03.03
(21)申请号 20192
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