一种检查色差的显微镜架台.pdfVIP

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  • 2023-08-19 发布于四川
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本申请公开了一种检查色差的显微镜架台,属于显微镜技术领域,其包括支撑架,所述支撑架上滑动设置有支撑台,所述支撑架上滑动设置有用于检测所述支撑台位移的磁栅尺,所述磁栅尺与所述支撑台之间设置有连接杆,所述磁栅尺以及所述支撑台分别与所述连接杆两端固定连接,所述支撑架上设置有用于驱动所述支撑台移动的第一驱动组件。本申请具有可以通过星点法检测位置色差的效果。

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219552229 U (45)授权公告日 2023.08.18 (21)申请号 202223600075.2 (22)申请日 2022.12.30 (73)专利权人 南京泰迅光学仪器有限公司 地址

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