一种具有debug功能的IC验证平台系统.pdfVIP

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本发明提出了一种具有debug功能的IC验证平台系统,包括:bug库,配置用于存储待测IC的bug模型,bug模型包括错误输出的特征参数、错误激励、错误类型以及debug策略;计分板模块,配置用于在判断待测IC产生错误输出时,提取错误输出的特征参数发送给序列生成器;序列生成器,配置用于产生对待测IC的激励;以及基于错误输出的特征参数在bug库中进行特征匹配并获取导致所述错误输出的激励,并执行对应的debug策略以确定待测设计中的bug位置。本发明通过在UVM验证平台中集成bug库和具有debug

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116611379 A (43)申请公布日 2023.08.18 (21)申请号 202310580754.8 (22)申请日 2023.05.19 (71)申请人 山东云海国创云计算装备产业创新

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