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本实用新型涉及一种用于锥束CT成像的原位高/低温压痕测试装置，属于机电一体化精密科学仪器及材料测试领域。包括锥束CT成像单元、高/低温压痕测试单元、电动旋转平台、隔振台及硅油控温装置，锥束CT成像单元、电动旋转平台与硅油控温装置安装在隔振台上；高/低温压痕测试单元固定在电动旋转平台上；高/低温压痕测试单元包括高/低温加载子模块、精密加载与检测子模块、真空保障子模块。本实用新型可在锥束CT成像单元的动态监测下开展‑50℃~120℃高/低温环境下的原位微纳米压痕测试，对材料在高应力应变作用下的微观变
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210154960 U
(45)授权公告日
2020.03.17
(21)申请号 20192
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