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- 2023-08-23 发布于四川
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本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种具有漏栅互联结构的IGZO晶体管及其制备方法;晶体管包括:背栅、背栅介质层、a‑IGZO沟道层、顶栅介质层、源极及漏极源极、漏极与顶栅介质层的侧面、a‑IGZO沟道层的侧面连接,源极、漏极与背栅介质层顶部连接,漏极与顶栅介质层顶部连接,源极与顶栅介质层顶部不连接。本发明解决了IGZO晶体管源漏极容易接触短路、IGZO沟道区狭窄导致的电子迁移率低、开态电流小的问题,同时较现有技术同等条件下具有更大的电子迁移率,同时具有更大的漏极电场,有助于降低接触势垒,进一步
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116632047 A
(43)申请公布日 2023.08.22
(21)申请号 202310274252.2
(22)申请日 2023.03.17
(71)申请人 中国科学院微电子研究所
地址 1
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