一种芯片外观检测设备.pdfVIP

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  • 2023-08-25 发布于四川
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本实用新型公开了一种芯片外观检测设备。本实用新型的技术方案是:包括机架,机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构;引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组,可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴;字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块;挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区;下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区,萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210207695 U (45)授权公告日 2020.03.31 (21)申请号 20192

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