硬盘数据测试方法、装置、系统及介质.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.74万字
约 14页
2023-08-30 发布于四川
举报
版权申诉

硬盘数据测试方法、装置、系统及介质.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本申请公开了硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，其中，硬盘数据测试方法包括：基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验；在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，第二分区为空；在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试；当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验。根据本申请

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116665758 A (43)申请公布日 2023.08.29 (21)申请号 202310505124.4 (22)申请日 2023.05.06 (71)申请人深圳市晶存科技有限公司地址 5