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下压测试盖.pdfVIP

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  • 2023-08-30 发布于四川
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下压测试盖.pdf

    本实用新型提供了一种下压测试盖，包括上盖、底座、卡钩和下压件，上盖的上端与底座的上端铰接，卡钩与底座的下端铰接，下压件的下端与底座的下端铰接，下压时，卡钩的上端勾住上盖的下端，并将上盖固定在底座上，下压件压在上盖上。下压时，通过下压件施力，使得卡钩和下压件共同作用在上盖上，增大了测试盖的受力，从而不会导致IC芯片与测试座接触不良，不会影响IC芯片的测试，同时，下压件在工作时采用了杠杆原理，具有施力方便和下压力量大等优点。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210270074 U (45)授权公告日 2020.04.07 (21)申请号 20192

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