CN114170227B-产品表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.docVIP

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114170227 B (45)授权公告日 2022.05.31 (21)申请号 202210126936 .3 (22)申请日 2022.02.11 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114170227 A G06V 10/774 (2022.01) (56)对比文件 罗月童等 .基于卷积去噪自编码器的芯片表 面弱缺陷检测方法《计算机科学》.2020 ,(第02 期) , (43)申请公布日 2022.03 .11 审查员 李慧然 (73)专利权人 北京阿丘科技有限公司 地址 100089 北京市海淀区