用于检查激光扫描仪的光学表面的检查系统和方法.pdfVIP

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  • 2023-09-09 发布于北京
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用于检查激光扫描仪的光学表面的检查系统和方法.pdf

本公开提供了用于检查激光扫描仪的光学表面的检查系统和方法,该系统包括定向光源和光学探测器。该方法包括在光学表面和光学探测器之间,将激光扫描仪或检查系统之一移动到其中定向光源的光束轴延伸越过光学表面但不与其相交的位置。方法进一步包括从定向光源发射光束,越过光学表面以便来自光束的光入射到位于光学表面上的碎片上。方法进一步包括在光学探测器处收集光以形成表明在激光扫描仪的光学表面上存在碎片的图像;以及产生反馈以提醒用户存在碎片。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116718610 A (43)申请公布日 2023.09.08 (21)申请号 202211539899.5 (22)申请日 2022.12.02 (30)优先权数据 17/653,779 2022

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