半导体结构及其形成方法.pdfVIP

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  • 2023-09-14 发布于四川
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一种半导体结构及其形成方法,半导体结构包括:基底,基底内形成有相邻的阱区和漂移区;栅极结构,位于阱区和漂移区交界处的基底上;源区,位于栅极结构一侧的阱区内;漏区,位于栅极结构另一侧的漂移区内;硅化物阻挡层,位于栅极结构和漏区之间的基底上,硅化物阻挡层还延伸至栅极结构中靠近漏区的侧壁和部分顶壁上;光吸收层,位于硅化物阻挡层上;介电层,位于栅极结构露出的基底上,且介电层覆盖栅极结构以及光吸收层;导电结构,位于介电层内,且导电结构的底端位于光吸收层中或者位于光吸收层上。光吸收层能够吸收光子中的能量,导

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111430461 A (43)申请公布日 2020.07.17 (21)申请号 20191

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