内存颗粒性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdfVIP

内存颗粒性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf

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本申请公开了一种内存颗粒性能测试方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质,方法包括:根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息;根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则;按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号,并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息;将所述工作信息上传至云端平台,以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断,获得测试结果。应用本申请所提供的技术方案,以实现更为精准的内存颗粒性能测试,同时也可以有效避免资源浪费。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116755947 A (43)申请公布日 2023.09.15 (21)申请号 202310629621.5 (22)申请日 2023.05.31 (71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司 地址

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