一种电子产品研发用密封性能检测装置.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约8.29千字
  • 约 9页
  • 2023-09-19 发布于四川
  • 举报

一种电子产品研发用密封性能检测装置.pdf

本实用新型公开了一种电子产品研发用密封性能检测装置,包括升降组件,所述升降组件的升降端连接有承载板,所述承载板表面安装有升降气缸,所述升降气缸的输出端竖直向下且安装有升降板,所述升降板表面贯穿设置有与气泵连接的注气管,所述注气管出气端安装有插接头;所述注气管外侧安装有密封罩,所述插接头位于所述密封罩内部,所述密封罩外侧连接有出气管,所述出气管内部设置有弹性组件,所述弹性组件的伸缩端穿出所述出气管且安装有密封板;所述承载板底面通过固定柱安装有固定板,所述固定板位于所述密封罩下方。有益效果在于:能够

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210464815 U (45)授权公告日 2020.05.05 (21)申请号 20192

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档