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本发明公开了一种通过检测荧光强度和颜色变化的电压预警方法，将半导体样品设置在衬底上，并在所述半导体样品表面设置电极，将带有电极的半导体样品放置在配有光谱采集系统的激光器下；再将带有电极的半导体样品接入待检测电压系统；打开所述光谱采集系统和待检测电压系统，对电压变化时半导体样品的发光谱进行实时光谱采集；基于采集的光谱，通过荧光强度变化和半导体样品的颜色变化来判断待检测电压系统的电压是否在安全范围内工作。上述方法能通过荧光强度变化和半导体样品的颜色变化来判断电压系统的电压是否在安全范围内工作，检测过
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116773498 A
(43)申请公布日 2023.09.19
(21)申请号 202310758878.0
(22)申请日 2023.06.26
(71)申请人 北京印刷学院
地址 102600
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