用于测试高频装置的测试头的接触探针.pdfVIP

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2023-09-30 发布于四川
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一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(10)，包括在第一端部(10a)和第二端部(10b)之间沿纵向轴线(H‑H)延伸的主体(10’)，第二端部(10b)适于接触被测器件的垫(11)。适当地，接触探针(10)包括第一区段(S1)和第二区段(S2)，第一区段(S1)从第一端部(10a)沿纵向轴线(H‑H)延伸并且由非导电材料制成，并且第二区段(S2)沿纵向轴线(H‑H)从第二端部(10b)向上延伸至第一区段(S1)，第二区段(S2)是导电的并且延伸的距离小于1000μm。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111344578 A (43)申请公布日 2020.06.26 (21)申请号 20188