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本发明涉及一种微纳结构透射电子断层图像重构的深度学习方法。该方法结合了透射电子显微镜的表征技术和深度学习的信息技术，主要用与微纳材料透射电子显微镜的断层图像重构。通过算法模拟微纳结构的透射电子断层图像，解决透射电子断层图像获取难度大、程度高的问题，基于特征提取可算法合成透射电子图像，将其应用于深度模型的训练，可以有效的解决电子断层重构过程中，因“缺失锥”导致的结构重构结果存在伪影和假象的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116823977 A
(43)申请公布日 2023.09.29
(21)申请号 202310253786.7 G06N 3/094 (2023.01)
(22)申请日 2023.03.
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