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本发明涉及薄壁零件线性尺寸检测技术领域的一种基于白光检测精密薄壁零件线性尺寸的方法,包括以下步骤:步骤一:将被测薄壁零件置于光学三坐标平台上,并调整光学三坐标CCD影像测头的光源亮度及放大倍数以至于被测薄壁零件表面清晰可见,以便于被测薄壁零件表面元素的测量,通过光学三坐标的CCD影像测头测量被测零件的基准要素点、线、面,建立被测薄壁零件的零件坐标系,以便于扫描被测要素的精确定位。本发明针对精密机加精密薄壁零件可快速提取零件形状、位置信息,实现准确检测,有利于零件在光学三坐标机上检测数据自动采集及
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116817748 A
(43)申请公布日 2023.09.29
(21)申请号 202310777855.4
(22)申请日 2023.06.28
(71)申请人 中国空空导弹研究院
地址 471
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