1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

一种可扩展的芯片连通性测试设备.pdfVIP

  • 4
  • 0
  • 约5.84千字
  • 约 7页
  • 2023-10-01 发布于四川
  • 举报

一种可扩展的芯片连通性测试设备.pdf

    本实用新型公开了一种可扩展的芯片连通性测试设备，涉及一种测试设备领域，包括壳体，壳体的内部设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备的PCB板，相邻可扩展的芯片连通性测试设备之间设置有用于传输数据的数据连接线，壳体的两侧设置有用于连接数据连接线的数据接口，壳体的一端设置有用于接通电源的电源接口，壳体的上方设置有便于更换测试芯片的管壳和用于指示作用的信号指示灯，壳体上设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备地址位的拨码开关，数据连接线、信号指示灯和拨码开关分别与PCB板连接，本实用新型可以实现同时测

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210573751 U (45)授权公告日 2020.05.19 (21)申请号 20192

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >