塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质.pdfVIP

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2023-10-04 发布于四川
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本申请实施例提供一种塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，涉及目标检测技术领域，通过对待检测的塑封薄膜图像进行目标检测，确定塑封薄膜图像中破损区域的检测框以及破损区域的破损类型；基于检测框的尺寸信息、破损类型以及塑封薄膜图像进行轮廓检测，确定塑封薄膜图像中破损轮廓面积；基于破损轮廓面积确定塑封薄膜图像的缺陷检测结果；本申请实施例通过定位塑封薄膜图像中破损区域的位置、破损类型，并基于破损轮廓面积确定塑封薄膜图像的缺陷检测结果，能够降低小面积破损、划痕、褶皱和隆起的干扰，提高缺陷检测结果的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116833111 A (43)申请公布日 2023.10.03 (21)申请号 202310836978.0 (22)申请日 2023.07.07 (71)申请人正泰集团研发中心