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2023-10-04 发布于四川
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本申请提供了一种芯片测试数据文档导出方法及系统，涉及数据处理领域，方法包括：将测试数据传输至内部存储器；处理器对测试数据进行处理，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115543934 A (43)申请公布日 2022.12.30 (21)申请号 202211265532.9 (22)申请日 2022.10.17 (71)申请人安测半导体技术（义乌）有限公司地址