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本申请公开了一种闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备，测试方法包括步骤：将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内；启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中；其中，所述第一测试程序和第二测试程序对闪存芯片的不同特性进行测试读取不同特性对应的测试数据。本申请将原来需要写入到闪存芯片中的多个测试程序进行集成，形成测试系统，多个测试程序可同时连接多个闪存芯片，选择需要测试的项目(可多选)，配置完成后可以对选择的测试项逐
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116844626 A
(43)申请公布日 2023.10.03
(21)申请号 202310670686.4
(22)申请日 2023.06.07
(71)申请人 深圳市时创意电子有限公司
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