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一种NAND闪存芯片的测试样本.pdfVIP

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  • 2023-10-11 发布于四川
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一种NAND闪存芯片的测试样本.pdf

    本发明实施例公开了一种NAND闪存芯片的测试样本，其中，所述测试样本包括多个相同的样本区域，每个样本区域包括多个相邻的数据块，所述多个相邻的数据块用于进行不同擦写次数的测试；所述多个相同的样本区域中，任意两个相邻的样本区域之间间隔预设数量的相邻数据块。本发明实施例通过将多个相邻的数据块构成样本区域，用于进行不同擦写次数的测试，并在测试样本中以一定的间隔均匀分布多个相同的样本区域，从而在单芯片上实现多种擦写次数的测试，不仅降低了测试成本，同时又能覆盖不同擦写次数的测试，实现NAND闪存芯片的基本性

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 108242252 A (43)申请公布日 2018.07.03 (21)申请号 20161

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