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本发明公开了基于暗态扫频法的Rb‑Xe自旋交换体系弛豫时间测量方法，涉及Rb‑Xe自旋交换体系技术领域，其技术方案要点是：在87Rb‑129Xe自旋交换体系中，87Rb和129Xe弛豫时间的准确测量对于磁共振陀螺及磁力仪相关应用非常重要。针对该需求，分析了泵浦光与激励磁场对87Rb弛豫时间的影响以及暗态下的87Rb和129Xe自旋交换过程，并在理论分析基础上提出了暗态扫频测量方法。实现了对87Rb以及129Xe的纵向弛豫时间的测量。相较于以往的测量方法，暗态扫频法可以彻底消除泵浦光造成的磁场梯度
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116859305 A
(43)申请公布日 2023.10.10
(21)申请号 202310716288.1
(22)申请日 2023.06.16
(71)申请人 中国人民解放军国防科技大学
地
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