电子元件测试用的自锁装置以及测试设备.pdfVIP

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2023-10-18 发布于四川
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电子元件测试用的自锁装置以及测试设备.pdf

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本申请提供了一种电子元件测试用的自锁装置和测试设备，所述电子元件测试用的自锁装置和测试设备包括：测试座，所述测试座用于安装待测电子元件；测试座上盖，所述测试座上盖用于压紧待测电子元件实现电接触，其一端通过第一转动件与所述测试座转动连接；动力部，所述动力部通过第二转动件与所述测试座上盖另一端转动连接，所述动力部产生动力带动第二转动件转动从而牵引所述测试座上盖关闭完成自锁，以及打开完成解锁。上述电子元件测试用的自锁装置和测试设备可实现全自动地锁紧和解锁测试座，代替了人工操作，应用于自动化测试设备，提

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219842467 U (45)授权公告日 2023.10.17 (21)申请号 202321074011.5 (22)申请日 2023.05.04 (73)专利权人浙江大立科技股份有限公司地址