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本文描述了光学采样架构及其操作方法。光学采样架构能够朝向发射区域发射发射片光束，以及从检测区域接收检测片光束。所述发射区域可具有相对于另一个维度是伸长的一个维度。所述检测区域也可具有相对于另一个维度伸长的一个维度，使得所述系统可选择性地接纳具有一个或多个特性(例如，入射角度、光束尺寸、光束形状等)的光。在一些示例中，所述检测区域的所述伸长维度可大于所述发射区域的所述伸长维度。在一些示例中，所述系统可包括输出耦合器阵列和相关联部件，以产生具有不同的平面内发射位置和/或平面内发射角度的光线的发射片光
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116893160 A
(43)申请公布日 2023.10.17
(21)申请号 202310859953.2 G01N 21/01 (2006.01)
(22)申请日 2018.09.
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