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本发明属于光学技术领域，公开了一种非线性光学晶体的性能检测方法及其检测系统，包括提供一测试激光，测试激光经由半波片和待测晶体后生成第一倍频光；转动半波片改变测试激光的偏振角度a，通过检测组件检测第一倍频光的强度为E；构建偏振角度a和强度E的坐标曲线，分析获得待测晶体的倍频性能，通过对于坐标曲线的分析，来获得待测晶体的倍频性能；本性能检测方法能够通过旋转半波片来获取不同偏振角度a的测试激光的倍频光强度E，能够十分直观的获取到待测晶体的倍频性能，并通过建立坐标曲线，获得一个动态的、连续的检测结果，有
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116907805 A
(43)申请公布日 2023.10.20
(21)申请号 202310997335.4
(22)申请日 2023.08.09
(71)申请人 深圳市启扬光学科技有限公司
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