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本发明公开了一种口罩面罩密合度分析仪，涉及密合度分析仪技术领域，包括底座，所述底座上端开设有两个梯形滑槽，所述底座上端通过磁铁连接有对内部仪器进行保护的防护罩，其中，所述底座开设的两个梯形滑槽内均滑动安装有梯形滑块，且每组梯形滑块的数量均为两个，本发明通过增加了DMA粒径筛分装置及气体流量控制装置，选取0.04um左右的颗粒物，作为测试媒介，这个粒径段的颗粒物，对滤料的穿透效率非常低，滤料几乎可以百分百的阻隔这个粒径段，因此在密合度测试过程中，0.04um的颗粒物不会穿透滤料进入口罩内部，能够进
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116929664 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310935798.8
(22)申请日 2023.07.27
(71)申请人 丛加仪器（上海）有限公司
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