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本发明提供一种快恢复二极管的制备方法，包括：步骤S1，于衬底上形成外延层；步骤S2，于外延层表面两侧分别形成场氧化区；步骤S3，于外延层中形成多个第一注入区，第一注入区贯穿外延层至衬底中；步骤S4，于外延层中形成多个第二注入区，第二注入区分别位于第一注入区表面；步骤S5，于外延层中形成多个第三注入区，然后快速退火；步骤S6，背面减薄，然后于衬底背面形成第四注入区；步骤S7，于第四注入区中形成多个第五注入区；步骤S8，于第四注入区的下表面形成第六注入区；步骤S9，淀积形成正面金属层和背面金属层。有
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116936356 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310981842.9
(22)申请日 2023.08.04
(71)申请人 上海维安半导体有限公司
地址 2
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