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- 2023-10-28 发布于四川
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本发明公开了一种组合电路延迟测试方法及其系统,方法包括:将多个待测试电路级联,在每个级联的待测试电路中插入中插单元,形成多组级联的测试电路;将测试数据输入多组级联的测试电路中,采用不同频率的时钟对多组级联的测试电路进行测试,获得多组级联电路的延迟时间;将多组级联中的所有中插单元级联成中插单元路径,获取中插单元电路的延迟时间;将多组级联电路的延迟时间减去中插单元电路的延迟时间除以多组级联的测试电路的级联个数,获得单个待测试电路延迟时间;本发明解决了无法测出最大延迟小于整体电路最小运行时钟周期的组合
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116953495 A
(43)申请公布日 2023.10.27
(21)申请号 202310777937.9
(22)申请日 2023.06.28
(71)申请人 中山大学
地址 510275
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