一种射频芯片接收通路的测试系统及测试方法.pdfVIP

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2023-10-28 发布于四川
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一种射频芯片接收通路的测试系统及测试方法.pdf

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本发明公开一种射频芯片接收通路的测试系统及测试方法，涉及芯片测试技术领域。所述射频芯片接收通路的测试系统用于对待测芯片的接收通路进行测试，测试系统包括依次电性连接的控制终端、矢量网络分析仪以及载板，待测芯片固定在载板上，且与载板电性连接。控制终端用于控制矢量网络分析仪获取待测芯片的回波损耗特性参数。控制终端还用于当回波损耗特性参数与预设参数不匹配时，确定待测芯片的接收通路损坏，并输出测试结果。所述射频芯片接收通路的测试方法应用于上述射频芯片接收通路的测试系统。所述射频芯片接收通路的测试系统用于芯

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116961784 A (43)申请公布日 2023.10.27 (21)申请号 202311219678.4 (22)申请日 2023.09.21 (71)申请人成都爱旗科技有限公司地址 61