一种PLC光分路器测试系统.pdfVIP

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本发明公开了一种PLC光分路器测试系统,涉及光分路器测试技术领域,通过测定单元获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值,以及每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki,并对工作波段进行测段分析,根据工作波段Gi的关联值和对应的Ki,确定评测波段;之后借助测试单元得到目标对象在对应评测波段的偏差和值,再利用处理器对所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值进行定点分析,得到核定波段;之后测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试,并将测试结果传输到结果收集单元;从而能够根据典型的核

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116980033 A (43)申请公布日 2023.10.31 (21)申请号 202310962331.2 (22)申请日 2023.08.02 (71)申请人 滁州爱沃富光电科技有限公司 地址

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