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本发明公开了基于数字全息的光纤预制棒折射率测试方法，涉及科学分析仪器领域，首先通过对离轴数字全息显微层析干涉光路的改进，该光路包括激光器、扩束器、分束器、两面反射镜、两个镜头、合束器、CCD等元器件，光路经过扩束、分束后，由反射镜改变光路，一路光束穿透预制棒携带折射率信息，另一路光束为参考光束，再次合束后，由CCD进行采集干涉信息，并由计算机进行分析，可实现有源棒、单模棒和少模棒的二维折射率的精确测量，对高端特种光纤的研制和开发具有重要的支撑和推动作用。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116990261 A
(43)申请公布日 2023.11.03
(21)申请号 202310758407.X
(22)申请日 2023.06.26
(71)申请人 上海大学
地址 200444
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